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基于孔径调制的超分辨率成像方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: ZL202010986140.6, 申请日期: 2023-12-26,
发明人:  何晋平;  徐彪
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基于狭缝宽度调制的光栅光谱仪分辨率增强方法及系统 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: ZL202210162467.0, 申请日期: 2023-12-19,
发明人:  何晋平;  王宇韬
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一种波导阵列型高分辨光谱检测芯片 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: ZL202111191318.9, 申请日期: 2023-06-30,
发明人:  林栋;  朱壮壮;  何晋平
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