| 基于狭缝宽度调制的光栅光谱仪分辨率增强方法及系统 | |
何晋平 ; 王宇韬
| |
| 2023-12-19 | |
| 专利权人 | 南京天文光学技术研究所 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 摘要 | 本发明公开了一种基于狭缝宽度调制的光栅光谱仪分辨率增强方法及系统,通过对狭缝进行调制和采集光谱数据,利用曲线拟合和外推,最终获得分辨率增强的光谱。本发明的有益效果是,通过狭缝宽度调制和光谱外推,解决了光栅光谱仪分辨率和信噪比之间的矛盾,在不降低光谱仪信噪比的情况下,增强光谱仪分辨率。且本方法操作简单、成本低廉且无需标定光学传递函数,仅需调节光谱仪入射狭缝宽度,即可获得高分辨率高信噪比的光谱。 |
| 学科领域 | 天文技术与方法 |
| 申请日期 | 2022-02-22 |
| 专利号 | ZL202210162467.0 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 已授权 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/2129 |
| 专题 | 中国科学院南京天文光学技术研究所知识成果 专利 |
| 作者单位 | 南京天文光学技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 何晋平,王宇韬. 基于狭缝宽度调制的光栅光谱仪分辨率增强方法及系统. ZL202210162467.0[P]. 2023-12-19. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 基于狭缝宽度调制的光栅光谱仪分辨率增强方（15874KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 下载 | ||
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