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大口径平面Ritchey-Common定量检验中展开技术的研究 学位论文
: 中国科学院研究生院, 2007
作者:  邢 娜
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Ritchey－common检测方法  大口径光学平面  Zernike 多项式拟合法  
检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法 期刊论文
光学技术, 2005, 卷号: 31, 期号: 4, 页码: 611-613
作者:  杨晓洪;  高必烈;  崔向群
浏览  |  Adobe PDF(212Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：535/207  |  提交时间：2013/12/24
干涉条纹的子孔径拼接  Ritchey-common 检测  Zernike 多项式  
在用Ritchey-Common法检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接法 学位论文
, 北京: 中国科学院研究生院, 2005
作者:  杨晓洪
收藏  |  浏览/下载：398/0  |  提交时间：2014/01/14
干涉条纹的子孔径拼接技术  Ritchey-common检测方法  平面拟合消差法  Zernike多项式拟合法