| 检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法 | |
杨晓洪 ; 高必烈; 崔向群
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| 2005-07 | |
| 发表期刊 | 光学技术
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| 卷号 | 31期号:4页码:611-613 |
| 摘要 |
提出了用Ritchey-Common 法检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法。通过确立基准点将多幅子孔径检测数据统一到全口径归一化坐标系下进行拼接,解决了在检验光路中因Ritchey 角所引起的投影变形问题和如何消去因被检平面的大曲率所造成的像散。通过Zernike 多项式拟合重建连续波面,可恢复全口径波面图像。 |
| 关键词 | 干涉条纹的子孔径拼接 Ritchey-common 检测 Zernike 多项式 |
| 学科领域 | 天文镜面（材料、加工、检测） |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/401 |
| 专题 | 期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨晓洪,高必烈,崔向群. 检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法[J]. 光学技术,2005,31(4):611-613. |
| APA | 杨晓洪,高必烈,&崔向群.(2005).检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法.光学技术,31(4),611-613. |
| MLA | 杨晓洪,et al."检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法".光学技术 31.4(2005):611-613. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼（212KB） | 开放获取 | CC BY-NC-ND | 浏览 下载 | |||
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