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大口径光学系统近场检测装置及其测量方法（授权发明） 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL201810429564.5, 申请日期: 2018-05-08, 公开日期: 2020-04-07
发明人:  寇松峰;  叶宇;  张志永;  田源;  顾伯忠
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大口径光学平面的绝对检验方法 学位论文
, 北京: 中国科学院研究生院, 2016
作者:  刘强
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光学检测  干涉检测  大口径平面  双平晶互检法  
大口径光学平面瑞奇-康芒检测技术的研究 期刊论文
光学技术, 2007, 卷号: 33, 期号: 5, 页码: 737-742
作者:  袁吕军;  邢娜
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瑞奇-康芒检测  面形误差  光学检测  
大口径平面Ritchey-Common定量检验中展开技术的研究 学位论文
: 中国科学院研究生院, 2007
作者:  邢 娜
收藏  |  浏览/下载：344/0  |  提交时间：2013/12/19
Ritchey－common检测方法  大口径光学平面  Zernike 多项式拟合法  
子孔径拼接法检验大口径光学镜面精度分析 期刊论文
应用光学, 2006, 卷号: 27, 期号: 5, 页码: 446-449,466
作者:  张明意;  李新南
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大口径光学平面  子孔径拼接  波面恢复  面形误差  精度分析  
子孔径拼接法检测大口径光学镜面的精度分析 期刊论文
光学与光电技术, 2005, 卷号: 3, 期号: 3, 页码: 54-57
作者:  杨晓洪;  高必烈
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子孔径拼接法  平面消差  Zernike 多项式拟合  精度分析