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光学综合孔径干涉成像技术
王海涛; 周必方
2002-10
Source Publication光学精密工程
Volume10Issue:5Pages:434-442
Abstract
闭合相位技术、U_V 覆盖技术和像重构技术是光学综合孔径干涉成像的三个关键技术。文中详细介绍了闭合相位技术的原理、U_V 覆盖技术( 包括即时覆盖和通过孔径旋转的非即时覆盖两种方法) 和用于图像重构的常用方法以及用于光学综合孔径像重构的混合迭代方法, 最后讨论了光学综合孔径干涉成像技术的应用。
Keyword光干涉 光学综合孔径 图像重构 闭合相位 U_v 覆盖
Subject Area恒星光干涉及综合孔径
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/341
Collection中国科学院南京天文光学技术研究所_期刊论文
天文光谱和高分辨成像技术研究室_期刊论文
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GB/T 7714
王海涛,周必方. 光学综合孔径干涉成像技术[J]. 光学精密工程,2002,10(5):434-442.
APA 王海涛,&周必方.(2002).光学综合孔径干涉成像技术.光学精密工程,10(5),434-442.
MLA 王海涛,et al."光学综合孔径干涉成像技术".光学精密工程 10.5(2002):434-442.
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