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Uniformity analysis of focal plane efficiency of the Multi-Channel Photometric Survey Telescope (Mephisto) 会议论文
SPIE Advances in Optical and Mechanical Technologies for Telescopes and Instrumentation V, Montréal, Québec, Canada, 2022-8-29
作者:  Han ZJ(韩子健);  Yuan XY(袁祥岩);  Li ZY(李正阳);  Wang JF(王晋峰);  Tian J(田杰);  Huang Y(黄亚)
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Telescopes  Coating,Photometric efficiency  Multi-channel survey  
Magnetron sputtering scanning method for modifying silicon carbide optical reflector surface and improving surface profile（授权发明） 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: US 11,339,468 B2, 申请日期: 2022-05-24,
发明人:  王晋峰;  黄猛;  田杰;  王烨儒
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