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在极坐标系统下进行直角坐标扫描方式的加工方法（发明） 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201110067364.8, 申请日期: 2013-01-09, 公开日期: 2011-08-17
发明人:  郭伟远;  成贤锴
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极坐标系统下进行直角坐标扫描的离子束抛光 期刊论文
应用光学, 2012, 卷号: 33, 期号: 1, 页码: 164-170
作者:  郭伟远;  成贤锴
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离子束抛光  极坐标系统  扫描方式  计算机控制光学表面成形  
离子束抛光技术的数学建模 学位论文
: 中国科学院研究生院, 2011
作者:  成贤锴
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离子束抛光  驻留时间  反馈控制  五轴联动  三杆机构