在极坐标系统下进行直角坐标扫描方式的加工方法（发明）

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	在极坐标系统下进行直角坐标扫描方式的加工方法（发明）
	郭伟远; 成贤锴
	2013-01-09
专利权人	中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
公开日期	2011-08-17
授权国家	中国
专利类型	发明
其他摘要	在极坐标系统下进行直角坐标扫描方式的加工方法：⑴根据工件表面误差分布和小工具加工函数，计算出直角坐标系下需要的驻留时间表；⑵小工具沿直线轴运动，工件朝一个方向旋转，到达按直角坐标系计算出的加工路线的起点位置开始加工；通过小工具移动与工件旋转的配合，加工路线是一条直线（第一条扫描线）；⑶按照步骤⑵的方式，小工具在工件上反向运动，加工下一条扫描线；⑷.循环步骤⑵至⑶，实现在极坐标系统下进行直角坐标扫描方式的加工。本发明结合了直角坐标系统和极坐标系统的优点，使设备节约了空间；不仅对驻留时间的求解非常方便，还避免了极坐标扫描方式中离子束扫描轨迹两侧的单位面积去除量不一样的问题。
学科领域	天文镜面（材料、加工、检测）
申请日期	2011-03-21
专利号	CN201110067364.8
专利状态	授权
申请号	CN201110067364.8
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/259
专题	专利
推荐引用方式 GB/T 7714	郭伟远,成贤锴. 在极坐标系统下进行直角坐标扫描方式的加工方法（发明）. CN201110067364.8[P]. 2013-01-09.

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在极坐标系统下进行直角坐标扫描方式的加工（267KB）			开放获取	CC BY-NC-ND	浏览下载