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Pilot Study for Ion Beam Figuring Process
会议论文
Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Advanced Optical Manufacturing Technologies, Dalian, China, 2010-4-26
作者:
GUO Weiyuan
;
ZHENG Yi
;
WANG Hai
;
LIANG Bin
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提交时间:2014/01/03
Precision Optical Processing
Ion Beam Figuring
Ion Beam Figuring Processing
Study For Ion Beam Figuring Process