| 基于平行平板的折射率高精度非接触测量 | |
熊芬 ; 胡中文; 姜明达
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| 2012-01 | |
| 发表期刊 | 应用光学
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| 卷号 | 33期号:1页码:148-153 |
| 摘要 |
常用的测量折射率的方法如偏向角法、自准直法、临界角法、Ｖ棱镜法等，这些方法通常需特制三棱镜与待测件。待测样品不一致且过程复杂，测试定标周期长，难于自动化。为了保证待测材料的完整及实现自动化测量，进行了基于平行平板的折射率非接触测量的尝试。运用该方法进行折射率的测量，不需特制三棱镜并且待测件与待测样品一致。分析表明，通过选择合适的测量角度，该方法旋转角度精度为Δａ＝０．００３°（即１０″），导轨精度为ΔＬ＝０．０００８ｍｍ，平行平板厚度测量精度为Δｄ＝０．００１ｍｍ。 |
| 关键词 | 光学测量 折射率 非接触测量 |
| 学科领域 | 天文技术与方法 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/535 |
| 专题 | 期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 熊芬,胡中文,姜明达. 基于平行平板的折射率高精度非接触测量[J]. 应用光学,2012,33(1):148-153. |
| APA | 熊芬,胡中文,&姜明达.(2012).基于平行平板的折射率高精度非接触测量.应用光学,33(1),148-153. |
| MLA | 熊芬,et al."基于平行平板的折射率高精度非接触测量".应用光学 33.1(2012):148-153. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 基于平行平板的折射率高精度非接触测量.p（1738KB） | 开放获取 | CC BY-NC-ND | 浏览 下载 | |||
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