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基于平行平板的折射率高精度非接触测量
熊芬; 胡中文; 姜明达
2012-01
Source Publication应用光学
Volume33Issue:1Pages:148-153
Abstract
常用的测量折射率的方法如偏向角法、自准直法、临界角法、V棱镜法等,这些方法通常需特制三棱镜与待测件。待测样品不一致且过程复杂,测试定标周期长,难于自动化。为了保证待测材料的完整及实现自动化测量,进行了基于平行平板的折射率非接触测量的尝试。运用该方法进行折射率的测量,不需特制三棱镜并且待测件与待测样品一致。分析表明,通过选择合适的测量角度,该方法旋转角度精度为Δa=0.003°(即10″),导轨精度为ΔL=0.0008mm,平行平板厚度测量精度为Δd=0.001mm。
Keyword光学测量 折射率 非接触测量
Subject Area天文技术与方法
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/535
Collection中国科学院南京天文光学技术研究所_期刊论文
天文光谱和高分辨成像技术研究室_期刊论文
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GB/T 7714
熊芬,胡中文,姜明达. 基于平行平板的折射率高精度非接触测量[J]. 应用光学,2012,33(1):148-153.
APA 熊芬,胡中文,&姜明达.(2012).基于平行平板的折射率高精度非接触测量.应用光学,33(1),148-153.
MLA 熊芬,et al."基于平行平板的折射率高精度非接触测量".应用光学 33.1(2012):148-153.
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