| 子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法 | |
张明意 ; 李新南
| |
| 2006-08 | |
| 发表期刊 | 光电工程
 |
| 卷号 | 33期号:8页码:117-122 |
| 摘要 |
在子孔径拼接检测大口径光学平面时，子孔径检测的数据往往存在倾斜，它将会导致拼接的数据沿着一个方向的倾斜累加，最后引入很大的倾斜误差。由于这种倾斜误差难以手动修正，通过实验，先用最小二乘法编制软件对所测子孔径数据进行消除倾斜处理，然后把去倾斜的子孔径数据进行拼接处理，对比消除倾斜的子孔径拼接结果与全口径直接检测结果，证明了去倾斜处理在子孔径拼接检测处理中的有效性。 |
| 关键词 | 光学检测 光学元件 子孔径拼接 倾斜 |
| 学科领域 | 天文镜面（材料、加工、检测） |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/432 |
| 专题 | 期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张明意,李新南. 子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法[J]. 光电工程,2006,33(8):117-122. |
| APA | 张明意,&李新南.(2006).子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法.光电工程,33(8),117-122. |
| MLA | 张明意,et al."子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法".光电工程 33.8(2006):117-122. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法.（1045KB） | 开放获取 | CC BY-NC-ND | 浏览 下载 | |||
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