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子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法
张明意; 李新南
2006-08
Source Publication光电工程
Volume33Issue:8Pages:117-122
Abstract
在子孔径拼接检测大口径光学平面时,子孔径检测的数据往往存在倾斜,它将会导致拼接的数据沿着一个方向的倾斜累加,最后引入很大的倾斜误差。由于这种倾斜误差难以手动修正,通过实验,先用最小二乘法编制软件对所测子孔径数据进行消除倾斜处理,然后把去倾斜的子孔径数据进行拼接处理,对比消除倾斜的子孔径拼接结果与全口径直接检测结果,证明了去倾斜处理在子孔径拼接检测处理中的有效性。
Keyword光学检测 光学元件 子孔径拼接 倾斜
Subject Area天文镜面(材料、加工、检测)
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/432
Collection中国科学院南京天文光学技术研究所_期刊论文
大口径光学技术研究室_期刊论文
Recommended Citation
GB/T 7714
张明意,李新南. 子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法[J]. 光电工程,2006,33(8):117-122.
APA 张明意,&李新南.(2006).子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法.光电工程,33(8),117-122.
MLA 张明意,et al."子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法".光电工程 33.8(2006):117-122.
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