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在极坐标系统下进行直角坐标扫描方式的加工方法(发明)
郭伟远; 成贤锴
2013-01-09
Rights Holder中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
Date Available2011-08-17
Country中国
Subtype发明
Other Abstract在极坐标系统下进行直角坐标扫描方式的加工方法:⑴根据工件表面误差分布和小工具加工函数,计算出直角坐标系下需要的驻留时间表;⑵小工具沿直线轴运动,工件朝一个方向旋转,到达按直角坐标系计算出的加工路线的起点位置开始加工;通过小工具移动与工件旋转的配合,加工路线是一条直线(第一条扫描线);⑶按照步骤⑵的方式,小工具在工件上反向运动,加工下一条扫描线;⑷.循环步骤⑵至⑶,实现在极坐标系统下进行直角坐标扫描方式的加工。本发明结合了直角坐标系统和极坐标系统的优点,使设备节约了空间;不仅对驻留时间的求解非常方便,还避免了极坐标扫描方式中离子束扫描轨迹两侧的单位面积去除量不一样的问题。
Subject Area天文镜面(材料、加工、检测)
Application Date2011-03-21
Patent NumberCN201110067364.8
Status授权
Application NumberCN201110067364.8
Document Type专利
Identifierhttp://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/259
Collection中国科学院南京天文光学技术研究所_专利
大口径光学技术研究室_专利
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GB/T 7714
郭伟远,成贤锴. 在极坐标系统下进行直角坐标扫描方式的加工方法(发明). CN201110067364.8[P]. 2013-01-09.
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