基于狭缝宽度调制的光栅光谱仪分辨率增强方法及系统 | |
何晋平![]() ![]() | |
2023-12-19 | |
Rights Holder | 南京天文光学技术研究所 |
Country | 中国 |
Subtype | 发明专利 |
Abstract | 本发明公开了一种基于狭缝宽度调制的光栅光谱仪分辨率增强方法及系统,通过对狭缝进行调制和采集光谱数据,利用曲线拟合和外推,最终获得分辨率增强的光谱。本发明的有益效果是,通过狭缝宽度调制和光谱外推,解决了光栅光谱仪分辨率和信噪比之间的矛盾,在不降低光谱仪信噪比的情况下,增强光谱仪分辨率。且本方法操作简单、成本低廉且无需标定光学传递函数,仅需调节光谱仪入射狭缝宽度,即可获得高分辨率高信噪比的光谱。 |
Subject Area | 天文技术与方法 |
Application Date | 2022-02-22 |
Patent Number | ZL202210162467.0 |
Language | 中文 |
Status | 已授权 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/2129 |
Collection | 中国科学院南京天文光学技术研究所知识成果 专利 |
Affiliation | 南京天文光学技术研究所 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 何晋平,王宇韬. 基于狭缝宽度调制的光栅光谱仪分辨率增强方法及系统. ZL202210162467.0[P]. 2023-12-19. |
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基于狭缝宽度调制的光栅光谱仪分辨率增强方(15874KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | View Download |
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