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恒星光干涉光程差检测及条纹跟踪方法和系统(授权发明)
侯永辉; 魏炜; 徐腾; 胡中文; 张晓杰; 姜海娇
2022-10-11
Rights Holder中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
Country中国
Subtype实用新型
Abstract

本发明涉及恒星光干涉光程差检测及条纹跟踪方法和系统,所述该光程差检测方法基于干涉光谱实现,利用色散棱镜获得干涉光束的干涉光谱,有效检测范围达到百微米量级,可快速捕获干涉条纹,同时实现光程差高精度检测。根据光程差检测结果进行条纹跟踪,通过延迟线系统补偿光程差,该延迟线系统由直线位移平台与纳米级压电位移平台组成,利用实时控制算法控制,同时以光程差检测结果作为反馈形成闭环,实现实时的一个波长量级的光程差补偿。本发明光程差检测精度可达一个波长量级、检测范围可达195μm,可快速捕获干涉条纹。本发明光程差补偿为闭环控制,在高效运行的同时,保证了光程差补偿的精度。

Subject Area天文技术与方法
Application Date2020-07-31
Patent NumberZL202010757686.4
Language中文
Document Type专利
Identifierhttp://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/2033
Collection专利
中国科学院南京天文光学技术研究所知识成果
Affiliation南京天文光学技术研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
侯永辉,魏炜,徐腾,等. 恒星光干涉光程差检测及条纹跟踪方法和系统(授权发明). ZL202010757686.4[P]. 2022-10-11.
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