大口径光学系统近场检测装置及其测量方法（授权发明）

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	大口径光学系统近场检测装置及其测量方法（授权发明）
	寇松峰; 叶宇; 张志永; 田源; 顾伯忠
	2018-05-08
Date Available	2020-04-07
Country	中国
Subtype	发明
Other Abstract	由准直镜、微透镜阵列和探测器组成夏克哈特曼波前测量装置，其特征在于，在被测量目标的前方放置有点光源阵列作为测量信标，在被测目标的焦点前放置有分光镜和定标点光源，焦点后依次放置有准直镜、微透镜阵列和探测器；由点光源阵列、测量目标、分光镜和定标点光源组成系统自检光路；由点光源阵列、测量目标、分光镜、准直镜、微透镜阵列和探测器组成测量光路。本发明以三级像差在入瞳位置上的相关性为理论基础，以近场点光源阵列为测量信标，实现了大口径光学系统的近场检测，可以广泛用于大型光学系统的室内以及无信标等特殊条件下的检测。
Subject Area	天文技术与方法
Copyright Date	2020-04-07
Patent Number	ZL201810429564.5
Language	中文
Status	授权
Document Type	专利
Identifier	http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/1736
Collection	专利
Affiliation	南京天文光学技术研究所
Recommended Citation GB/T 7714	寇松峰,叶宇,张志永,等. 大口径光学系统近场检测装置及其测量方法（授权发明）. ZL201810429564.5[P]. 2018-05-08.

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File name:	大口径光学系统近场检测装置及其测量方法.PDF
Format:	Adobe PDF

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