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大口径光学系统近场检测装置及其测量方法(授权发明)
寇松峰; 叶宇; 张志永; 田源; 顾伯忠
2018-05-08
Date Available2020-04-07
Country中国
Subtype发明
Other Abstract由准直镜、微透镜阵列和探测器组成夏克哈特曼波前测量装置,其特征在于,在被测量目标的前方放置有点光源阵列作为测量信标,在被测目标的焦点前放置有分光镜和定标点光源,焦点后依次放置有准直镜、微透镜阵列和探测器;由点光源阵列、测量目标、分光镜和定标点光源组成系统自检光路;由点光源阵列、测量目标、分光镜、准直镜、微透镜阵列和探测器组成测量光路。本发明以三级像差在入瞳位置上的相关性为理论基础,以近场点光源阵列为测量信标,实现了大口径光学系统的近场检测,可以广泛用于大型光学系统的室内以及无信标等特殊条件下的检测。
Subject Area天文技术与方法
Copyright Date2020-04-07
Patent NumberZL201810429564.5
Language中文
Status授权
Document Type专利
Identifierhttp://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/1736
Collection中国科学院南京天文光学技术研究所_专利
望远镜工程中心_专利
Affiliation南京天文光学技术研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
寇松峰,叶宇,张志永,等. 大口径光学系统近场检测装置及其测量方法(授权发明). ZL201810429564.5[P]. 2018-05-08.
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