| 大口径光学系统近场检测装置及其测量方法（授权发明） |
| 寇松峰 ; 叶宇; 张志永; 田源; 顾伯忠
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| 2018-05-08
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| 公开日期 | 2020-04-07
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| 授权国家 | 中国
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| 专利类型 | 发明
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| 其他摘要 | 由准直镜、微透镜阵列和探测器组成夏克哈特曼波前测量装置，其特征在于，在被测量目标的前方放置有点光源阵列作为测量信标，在被测目标的焦点前放置有分光镜和定标点光源，焦点后依次放置有准直镜、微透镜阵列和探测器；由点光源阵列、测量目标、分光镜和定标点光源组成系统自检光路；由点光源阵列、测量目标、分光镜、准直镜、微透镜阵列和探测器组成测量光路。本发明以三级像差在入瞳位置上的相关性为理论基础，以近场点光源阵列为测量信标，实现了大口径光学系统的近场检测，可以广泛用于大型光学系统的室内以及无信标等特殊条件下的检测。 |
| 学科领域 | 天文技术与方法
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| 授权日期 | 2020-04-07
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| 专利号 | ZL201810429564.5
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| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 授权
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/1736
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| 专题 | 专利
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| 作者单位 | 南京天文光学技术研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
寇松峰,叶宇,张志永,等. 大口径光学系统近场检测装置及其测量方法（授权发明）. ZL201810429564.5[P]. 2018-05-08.
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文件名：
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大口径光学系统近场检测装置及其测量方法.PDF
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格式：
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Adobe PDF
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