在条纹反射测量中快速获取解包相位的方法(授权发明) | |
李博; 徐秋云; 翟洋 | |
2015-05-11 | |
Date Available | 2018-08-28 |
Country | 中国 |
Subtype | 发明 |
Abstract |
在条纹反射测量装置中快速获取解包相位的方法:⑴ .显示标准正弦条纹图;⑵ .经镜面反
射样品的反射后成为反射正弦条纹图;⑶ .拍摄反射正弦条纹图;⑷ .按照相位恢复方法得到压包相位;⑸ .令显示器投射一幅经过编码得到的具有四种灰度的标准正交条纹图;⑹ .用相机拍摄镜面反射样品反射所形成的反射正交条纹图;⑺ .提取相位解包操作所需的水平方向和垂直方
向相位整数信息;⑻ .改变空间频率得到多幅标准正交条纹图;⑼ .依次投射标准正交条纹图,并重复步骤步骤⑹与步骤⑺,得到不同空间频率下的相位整数信息;⑽ .进行相位解包操作得到解包相位。本发明计算速度快、准确、抗噪声性能好;大幅提高了测量效率。
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Subject Area | 天文技术与方法 |
Copyright Date | 2018-08-28 |
Patent Number | ZL201510237635 .8 |
Language | 中文 |
Status | 授权 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/1526 |
Collection | 专利 |
Affiliation | 南京天文光学技术研究所 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 李博,徐秋云,翟洋. 在条纹反射测量中快速获取解包相位的方法(授权发明). ZL201510237635 .8[P]. 2015-05-11. |
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在条纹反射测量中快速获取解包相位的方法.(1063KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | View Download |
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