NIAOT OpenIR  > 中国科学院南京天文光学技术研究所  > 专利
在条纹反射测量中快速获取解包相位的方法(授权发明)
李博; 徐秋云; 翟洋
2015-05-11
Date Available2018-08-28
Country中国
Subtype发明
Abstract
在条纹反射测量装置中快速获取解包相位的方法:⑴ .显示标准正弦条纹图;⑵ .经镜面反
射样品的反射后成为反射正弦条纹图;⑶ .拍摄反射正弦条纹图;⑷ .按照相位恢复方法得到压包相位;⑸ .令显示器投射一幅经过编码得到的具有四种灰度的标准正交条纹图;⑹ .用相机拍摄镜面反射样品反射所形成的反射正交条纹图;⑺ .提取相位解包操作所需的水平方向和垂直方
向相位整数信息;⑻ .改变空间频率得到多幅标准正交条纹图;⑼ .依次投射标准正交条纹图,并重复步骤步骤⑹与步骤⑺,得到不同空间频率下的相位整数信息;⑽ .进行相位解包操作得到解包相位。本发明计算速度快、准确、抗噪声性能好;大幅提高了测量效率。
Subject Area天文技术与方法
Copyright Date2018-08-28
Patent NumberZL201510237635 .8
Language中文
Status授权
Document Type专利
Identifierhttp://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/1526
Collection中国科学院南京天文光学技术研究所_专利
大口径光学技术研究室_专利
Affiliation南京天文光学技术研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
李博,徐秋云,翟洋. 在条纹反射测量中快速获取解包相位的方法(授权发明). ZL201510237635 .8[P]. 2015-05-11.
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