| 在条纹反射测量中快速获取解包相位的方法（授权发明） | |
李博 ; 徐秋云; 翟洋
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| 2015-05-11 | |
| Date Available | 2018-08-28 |
| Country | 中国 |
| Subtype | 发明 |
| Abstract |
在条纹反射测量装置中快速获取解包相位的方法：⑴ .显示标准正弦条纹图；⑵ .经镜面反
射样品的反射后成为反射正弦条纹图；⑶ .拍摄反射正弦条纹图；⑷ .按照相位恢复方法得到压包相位；⑸ .令显示器投射一幅经过编码得到的具有四种灰度的标准正交条纹图；⑹ .用相机拍摄镜面反射样品反射所形成的反射正交条纹图；⑺ .提取相位解包操作所需的水平方向和垂直方
向相位整数信息；⑻ .改变空间频率得到多幅标准正交条纹图；⑼ .依次投射标准正交条纹图，并重复步骤步骤⑹与步骤⑺，得到不同空间频率下的相位整数信息；⑽ .进行相位解包操作得到解包相位。本发明计算速度快、准确、抗噪声性能好；大幅提高了测量效率。
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| Subject Area | 天文技术与方法 |
| Copyright Date | 2018-08-28 |
| Patent Number | ZL201510237635 .8 |
| Language | 中文 |
| Status | 授权 |
| Document Type | 专利 |
| Identifier | http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/1526 |
| Collection | 专利 |
| Affiliation | 南京天文光学技术研究所 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 李博,徐秋云,翟洋. 在条纹反射测量中快速获取解包相位的方法（授权发明）. ZL201510237635 .8[P]. 2015-05-11. |
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| 在条纹反射测量中快速获取解包相位的方法.（1063KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | View Download | ||
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