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恒星光干涉光程差检测及条纹跟踪方法和系统(授权发明) 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: ZL202010757686.4, 申请日期: 2022-10-11,
发明人:  侯永辉;  魏炜;  徐腾;  胡中文;  张晓杰;  姜海娇
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基于空间光程差调制的光程差测量方法及其装置(授权发明) 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL201610261978 .2, 申请日期: 2016-04-25, 公开日期: 2018-07-10
发明人:  孙长胜;  朱永田;  胡中文;  徐腾
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