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大口径自适应镜面微位移测量系统设计 期刊论文
光学精密工程, 2018, 卷号: 26, 期号: 7, 页码: 1612-1621
作者:  左恒;  刘志民
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自适应副镜  微位移测量  Pcap01电容数字转换芯片  Stm32f103单片机  
远离物体微位移测量装置(新型) 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN01244750.1, 申请日期: 2002-10-09, 公开日期: 2002-10-09
发明人:  胡企千;  王永;  周遵源;  倪厚坤
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