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大口径光学系统近场检测装置及其测量方法（授权发明） 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL201810429564.5, 申请日期: 2018-05-08, 公开日期: 2020-04-07
发明人:  寇松峰;  叶宇;  张志永;  田源;  顾伯忠
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非冗余孔径掩模技术在双星探测中的实验研究 期刊论文
激光与光电子学进展, 2018, 卷号: 55, 期号: １１１１０１, 页码: 1-10
作者:  王彦强;  吴桢
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成像系统  光干涉  双星  非冗余孔径掩模  闭合相位