×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
登录
中文版
|
English
中国科学院南京天文光学技术研究所机构知识库
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
学科领域
关键词
资助项目
文献类型
出处
收录类别
出版者
发表日期
存缴日期
学科门类
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
新闻&公告
在结果中检索
研究单元&专题
学位论文 [3]
期刊论文 [1]
作者
杨晓洪 [2]
武中华 [1]
邢 娜 [1]
高必烈 [1]
文献类型
学位论文 [3]
期刊论文 [1]
发表日期
2010 [1]
2007 [1]
2005 [2]
语种
中文 [1]
出处
光学与光电技术 [1]
资助项目
收录类别
资助机构
×
知识图谱
NIAOT OpenIR
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共4条,第1-4条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
题名升序
题名降序
提交时间升序
提交时间降序
发表日期升序
发表日期降序
期刊影响因子升序
期刊影响因子降序
离轴非球面在光学细磨和粗抛阶段的波面再现技术研究
学位论文
: 中国科学院研究生院, 2010
作者:
武中华
收藏
  |  
浏览/下载:503/0
  |  
提交时间:2013/12/18
离轴非球面
付科检验
波面再现
定量分析
Zernike 多项式拟合
大口径平面Ritchey-Common定量检验中展开技术的研究
学位论文
: 中国科学院研究生院, 2007
作者:
邢 娜
收藏
  |  
浏览/下载:427/0
  |  
提交时间:2013/12/19
Ritchey-common检测方法
大口径光学平面
Zernike 多项式拟合法
在用Ritchey-Common法检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接法
学位论文
, 北京: 中国科学院研究生院, 2005
作者:
杨晓洪
收藏
  |  
浏览/下载:446/0
  |  
提交时间:2014/01/14
干涉条纹的子孔径拼接技术
Ritchey-common检测方法
平面拟合消差法
Zernike多项式拟合法
子孔径拼接法检测大口径光学镜面的精度分析
期刊论文
光学与光电技术, 2005, 卷号: 3, 期号: 3, 页码: 54-57
作者:
杨晓洪
;
高必烈
浏览
  |  
Adobe PDF(287Kb)
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:747/361
  |  
提交时间:2013/12/24
子孔径拼接法
平面消差
Zernike 多项式拟合
精度分析