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基于空间光程差调制的光程差测量方法及其装置(授权发明) 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL201610261978 .2, 申请日期: 2016-04-25, 公开日期: 2018-07-10
发明人:  孙长胜;  朱永田;  胡中文;  徐腾
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在条纹反射测量中快速获取解包相位的方法(授权发明) 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL201510237635 .8, 申请日期: 2015-05-11, 公开日期: 2018-08-28
发明人:  李博;  徐秋云;  翟洋
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高精度强抗干扰温度测量系统及其方法(发明) 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200810196362.7, 申请日期: 2010-07-07, 公开日期: 2009-01-14
发明人:  姚正秋;  叶宇;  张振超
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