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基于孔径调制的超分辨率成像方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: ZL202010986140.6, 申请日期: 2023-12-26,
发明人:  何晋平;  徐彪
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基于波面分割及多平面相位恢复的定量相位成像 期刊论文
光学学报, 2023, 卷号: 43, 期号: 14, 页码: 1411002-1-10
作者:  桂博瀚;  李常伟
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成像系统  多平面相位恢复  双波长  微透镜阵列  定量相位成像