基于闪耀光栅拼接技术的检测结构及其拼接误差调整方法（授权发明）

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	基于闪耀光栅拼接技术的检测结构及其拼接误差调整方法（授权发明）
	韩建; 姜明达; 张凯; 肖东; 朱永田
	2021-06-18
专利权人	中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
授权国家	中国
专利类型	发明专利
摘要	基于闪耀光栅拼接技术的检测结构及其拼接误差调整方法,两个不同波长的激光经过准直扩束后由半反半透镜分成两束,分别形成衍射m级检测条纹及0级检测条纹,前者由经反射后到达CCD A与入射光束透过分光棱镜到达拼接光栅与自准直反射后到达CCD A的两束光束在CCD A上形成干涉条纹；0级检测条纹是由半反半透镜分出的另一束经反射到CCD B上的光束与入射光束反射到CCD B上的光束干涉形成的条纹；CCD A与CCD B的输出经计算机数据处理分别接入两个驱动装置；使调整光栅B严格和基准光栅A拼接。本发明最大化实现闪耀拼接光栅的调整和检测,具有低成本、结构简单、高精度,可完成大尺寸光栅拼接的高精度的基本要求。
学科领域	天文技术与方法
授权日期	2021-06-18
申请日期	2019-11-28
专利号	ZL201911189347.4
语种	中文
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/1918
专题	专利
作者单位	南京天文光学技术研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	韩建,姜明达,张凯,等. 基于闪耀光栅拼接技术的检测结构及其拼接误差调整方法（授权发明）. ZL201911189347.4[P]. 2021-06-18.

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基于闪耀光栅拼接技术的检测结构及其拼接误（4600KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	浏览下载